碩訊 Wi-Fi 7 Wi-Fi MLO AP 頭戴式裝置 雜訊 天線

Wi-Fi 7天線測試要點:覆蓋率、相容性、雜訊

2023-08-04
聯發科技(MTK)、高通(Qualcomm)等晶片大廠接連推出Wi-Fi 7產品,業界持續關注Wi-Fi 7技術發展,對於產品設計人員來說,測試驗證是實現Wi-Fi 7全新性能的關鍵。
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Wi-Fi 7是目前科技業者關注的未來技術發展趨勢,Wi-Fi 7產品性能規範不僅加寬頻寬為320M、符合QAM4096,還有一個Wi-Fi 7產品應該具備的非常重要的功能:「多重連接模式技術(MLO)」。其中,在MLO底下,由Wi-Fi 6 Preamble Puncturing延伸而來的Multi-RU Puncturing技術更是Wi-Fi 7技術的一大特點。

訊號覆蓋率影響通訊品質

如果科技產品在設計開發時需要支援上述Wi-Fi 7特點,除了傳輸速率須

達QAM4096以外,訊號的覆蓋率也是衡量Wi-Fi 7通訊品質的指標之一。特別是Wi-Fi 7通訊產品的應用場景多元,各自具有不同的覆蓋範圍需求。

以AP Router為例,AP與多台Station連線傳輸,需要將其他Wi-Fi產品的外部干擾、在各個角度下的衰減情形列入考量,來查看訊號的覆蓋範圍是否符合要求,或查看覆蓋死角的位置。覆蓋死角是指訊號無法到達或覆蓋範圍無法涵蓋的區域,可能導致通訊中斷或品質下降。高覆蓋率表示Wi-Fi訊號能夠覆蓋到更多的區域,提供更廣的服務範圍。

統計市售產品在6GHz頻段的發射功率,受限於無線電法規規定,AP為16~18dBm、筆記型電腦(NB)為12~15dBm、智慧型手機(Smartphone)為12~13dBm。Wi-Fi 7 MCS13/BW:320MHz需要的接收訊號為-34dBm,不考慮環境及干擾,單就自由空間損失估算約為3公尺的距離。也就是說,若天線要符合Wi-Fi 7規範要求,傳輸距離、覆蓋率需要達到2~3公尺的距離,這時,天線晶片廠需要足夠的實驗空間來執行遠場的衰減測試,以證明產品效能(圖1)。

圖1 天線測試場景

測試驗證對於實現Wi-Fi 7全新性能至關重要,而碩訊科技(TRC)針對Wi-Fi 7規範,發明了適用於Wi-Fi 7測試的測試天線,提供「左旋圓形極化天線」、「右旋圓形極化天線」。考慮到測試覆蓋率和角度,測試天線的排列角度基於測試標準規定而設計,方便使用者在轉桌上擺放待測物時,不用特別區分垂直或水平即可測試。碩訊在測試軟體方面,也推出多種測試選項方便使用者進行測試。

測試確保晶片相容性

除此之外,通訊產品的晶片相容性也是Wi-Fi 7產品業者需要考慮的因素之一。不同晶片對應不同廠牌的產品,彼此之間可能存在相容性問題。為了確保Wi-Fi 7通訊產品在不同環境下能夠正常運作,避免相容性衝突,維持通訊品質,需要經過MLO測試,亦稱為「多重連接模式模擬測試」。

碩訊為此推出MLO Box,提供多個STA或多個AP之間交互連線機體。雖然MLO Box將測試空間縮小,改用隔離箱的測試環境(圖2),但實際上測試結構的損耗能支援測試出2~3公尺的測試距離,集結Wi-Fi 7產品可能會面臨的主要測試項目於一體,是根據通訊標準TR398條文第五章要求而建構的測試環境。

圖2 隔離箱測試環境

由於在眾多裝置中,有七成以上的Wi-Fi上網情境使用手機,MLO BOX特別推出Phone Box模擬手機對AP的連線測試,以及其他不同產品、不同廠牌晶片之間多種組合的連線情境。

Puncturing測試手法依照TR398 6.5.2 AP Coexistence,以吞吐量(Throughput)演算STA使用頻寬,以頻譜證明STA受干擾時使用頻寬。另一方面,Latency測試手法則依照TR398 6.2.6,測試1個STA及4個STA的傳輸連線時間。

天線放置位置攸關雜訊問題

除了天線晶片效能以外,業者在開發設計Wi-Fi 7產品時,還需要注意天線晶片的擺置位置。天線的擺放位置對於收訊品質和雜訊程度有著重要的影響,天線擺放不當將引起雜訊問題,進而影響通訊品質。因此,負責產品設計階段的人員,他們每設計一款外殼(Housing)便會投入稱為EMI的接收感度惡化雜訊測試。進行Wi-Fi 7產品設計時,設計人員將根據Wi-Fi 7 QAM4096規範,控制產品被動元件雜訊小於訊號強度-38dBm,以維持Wi-Fi 7天線晶片的效能。

回過頭來看,在Wi-Fi 7 QAM4096的應用中,除了大家耳熟能詳的筆電、手機、AP Router以外,其實也涵蓋熱門的AR/VR/MR/XR產品,例如智慧眼鏡、智慧頭盔,以及其他穿戴式智慧產品。AR/VR/MR/XR這類產品尤其需要低延遲高速率的連線技術。

以熱門的智慧頭盔為例,頭戴式裝置內建Wi-Fi 7天線傳導測試接收感度約在-47dBm,在每間隔78.125KHz一個子載波的訊號能量為-83dBm。要進行QAM4096的解調,在78.125KHz頻段內的雜訊必須小於-121dBm,此一限制只比一般的熱雜訊(-174dBm/Hz=-126.1dBm/78.125KHz)高約5dB。頭戴式裝置的控制計算單元、影像、感知及聲音處理單元,其資料傳輸的寬頻雜訊必須小於-121dBm,或者在天線與雜訊源之間保持適當隔離,因此需要量測整個裝置的雜訊分布。

然而,頻譜分析儀在解析頻寬為100KHz時,其Noise Floor level=-115dBm,無法量測QAM4096的解調雜訊限制-121dBm。為此,碩訊提供載台雜訊測試系統Platform Noise Scanner,利用掃描探棒透過頻譜分析儀掃描出雜訊熱點位置,並降低衰減器衰減值以維持2.5Gbps吞吐量,此降低的衰減值即為320MHz頻寬MCS13的接收感度惡化。進行此項測試使用頻譜找出6~10個最大的雜訊干擾源,雜訊測試的各參數設定以及吞吐量測試的設定均須列入考量,才能穩定重測性。

總結而言,針對Wi-Fi 7天線,放置位置、傳輸距離、覆蓋範圍、晶片相容性、雜訊除錯等因素皆十分關鍵,而碩訊科技的測試設備提供以上各方面的測試項目,讓Wi-Fi 7業者在通訊產品開發及設計階段,在上述各層面的考量上,能以數據評估表現並進行比較。

(本文由碩訊科技提供)

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