HIL RF 雷達

NI採用整合式HIL模擬器提升硬體迴路客制化功能

2016-08-11
國家儀器(NI)日前推出整合式硬體迴圈(HIL)模擬器採開放式模組化架構,在時間緊縮、測試需求不斷變化與人力減少的情況下,有助於汽車與航太嵌入式軟體的測試人員繼續維持品質。
國家儀器(NI)日前推出整合式硬體迴圈(HIL)模擬器採開放式模組化架構,在時間緊縮、測試需求不斷變化與人力減少的情況下,有助於汽車與航太嵌入式軟體的測試人員繼續維持品質。

Saab Aeronautics的Anders Tunströmer表示,該公司選用國家儀器HIL測試系統,因為此系統採用開放式標準平台,有助於降低整體測試、長期維修與硬體持有成本。此系統讓該公司能依自身的確切需求客制化系統,並能在整合測試該公司的獅鷲戰鬥機時,盡早發現、修復嵌入式軟體的缺陷。

由於NI系統採用開放式的現成軟硬體平台,因此能夠輕鬆整合相機影像處理、RF I/O與傳統HIL元件至單一系統之中。 這樣的調整功能不同於目前其他的方法,可讓工程師隨時滿足高階駕駛輔助系統、系統電氣化與高階感測器(例如雷達)等進階測試的需求。

NI資料擷取與嵌入式系統行銷副理Chad Chesney指出,由於需求不斷改變,同時又需要更完整的測試範圍,因此除了一般元件之外,大部分的HIL測試系統還必須提供數項客制化功能。NI標準化了這些測試系統的常見元件,以便該公司的客戶與合作夥伴能夠專注在他們的專業領域,並確實提供最穩定、創新的控制系統。

國家儀器網指:www.ni.com

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