愛德萬測試 SEMICON China 測試 AI 人工智慧 活動訊息

愛德萬於SEMICON China展示多功能V93000平台AI測試方案

2019-03-22
愛德萬測試於3月20-22日,在上海新國際博覽中心所舉行的SEMICON China,為多元化快速發展的人工智慧(AI)與高效能運算市場,展示V93000AI測試解決方案,並發表相關技術論文。V93000 單一可擴充式平台目前已獲全球主要AI晶片設計者肯定並廣為使用,包括中國領先的人工智能無晶圓廠公司所使用。

AI和高效能運算應用涵蓋了包括伺服器廠、無人駕駛汽車、邊緣運算,人臉辨識,以及加密貨幣等。 V93000平台的頂尖掃描測試能力、設備電源(DPS)的最佳組合,以及高速儀器等,使該系統贏得了約80% 的測試市場。

愛德萬測試的通道卡(Channel Cards)系列,讓V93000系統能具有業界領先的性能和多功能性。當搭配Pin Scale 1600B 卡時,此測試系統在掃描的向量記憶體深度已超越業界,還能以每腳位 1.6 Gbps 快速的資料傳輸速率執行測試。對於需要數十至數百安培核心電源的元件,V93000也可藉由DC Scale UHC4T 卡,來達到領先業界的負載階躍響應(Load Step Response)。為了要測試高達 16 Gbps 的高速 IC,Pin Scale 1600B 、Pin Scale 9G ,以及Pin Scale SL 卡都能支援以模式為主或偽亂數二進位數列 (PRBS)之測試。

此外,在測試過程中測試元件會消散數百瓦的功率,愛德萬測試也是唯一能夠提供具有主動式溫度控制(ATC)整合測試方案的ATE供應商。若將V93000與M4872分類機搭配,整體方案除能控制待測元件(DUT)的溫度在防護帶內並能達到最大的產能。

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