安森美半導體(ON Semiconductor)，推出了由該公司矽光電倍增器(SiPM)技術實現的單點直接飛行時間(dToF)的光學雷達方案。
光檢測和測距或光學雷達的應用在所有領域都在增長，包括機器人和強制要求毫米範圍精準度的工業接近感測。它通常基於dToF方法，測量通常在近紅外(NIR)波長範圍內的一個光脈衝往返於一個物體所需的時間。
儘管原理很簡單，但其應用可能會帶來挑戰性，例如周圍太陽光較強等環境因素。為了準確確定範圍，接收器需要捕獲盡可能多的訊號。就響應時間和靈敏度而言，傳統的光電二極體在這方面會受到影響。安森美半導體開發的矽光電倍增器(SiPM)感測器提供更快的響應時間和高檢測效率，克服了這些不足。該參考平台使用安森美半導體第二代SiPM感測器RB系列，在紅色和NIR範圍都帶來更高的性能。
安森美半導體開發的SiPM dToF 光學雷達平台提供低成本、單點光學雷達的完整方案，原始設備製造商(OEM)可靈活調整並投入生產，以創造工業測距應用。它包括NIR激光二極體、SiPM感測器和光學元件，以及將檢測到的訊號轉換為經過時間，以及將經過時間轉換為距離所需的數位處理。
為加快客戶的上市時間，安森美半導體提供該參考平台的所有設計數據，涵蓋原理圖、物料單(BoM)、gerber文件和PCB設計文件。客戶還可以存取基於PC的圖形使用者介面(GUI)，提供隨時間變化的測量結果的圖形。產生的直方圖進一步證明該系統在測距、碰撞檢測和3D製圖等應用的能力。
安森美半導體物聯網主管Wiren Perera表示，使用dToF 光學雷達進行測距，滿足了許多應用的關鍵需求，從自主導航到地圖繪製到監控。但是，開發以dToF光學雷達為基礎的系統可能具有挑戰性。有了經驗證的設計，客戶就能更快地進行概念驗證，並迅速將產品推向市場。
SiPM dToF光學雷達平台可檢測10厘米至23米距離的物體。 使用提供的GUI提供開箱即用(Out-of-the-box)的體驗，使工程師可以立即開始評估該技術。該設計已獲得美國食品和藥物管理局(FDA)一類認證，並符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11雷射安全標準。