愛德萬測試 SoC DUT 相容性 PMIC

愛德萬測試舉辦年度SoC技術研討會

2022-11-22
愛德萬測試持續為廣大客戶群及使用者舉辦SoC技術研討會,今年已邁入第11年。今年愛德萬測試於11月24日在新竹喜來登飯店,以Beyond Technology Horizon超越技術視野為主題,舉辦SoC技術研討會。

活動中將發表各項新型SoC測試解決方案,包含針對工程應用與實驗室所開發的新型V93000測試站,可以加快產品開發速度。此外,還將展示新加入到V93000測試頭系列中的DUT介面。它可以改變其機械尺寸以便使用更大的DUT載板涵蓋新的應用需求,也同時保持與現有載板的兼容性。

在今年的研討會中,愛德萬測試首次推出用於PMIC測試和其他需要更高電壓應用的XPS電源供應模組的新版本。此外還將討論V93000 WiFi7解決方案、大電流概況分析的新功能,以及ATE上的高速掃描和SLT功能。另外為了讓客戶與使用者更深入了解各項新的測試解決方案,大會還設置多個技術交流站(Technology Kiosk),提供參與者和愛德萬測試技術顧問交流討論,了解有關新解決方案的更多訊息。活動中亦將展示新硬體設計、應用範例並操作軟體即時展現新功能。

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