半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)發表兩款最新通用型硬體設備──500MDM數位模組與DPS32A電源供應模組，擴充旗下T2000測試平台功能，涵蓋諸如系統單晶片(SoC) 元件、電源管理IC、車用元件和CMOS影像感測器等各類應用，以因應日益成長的數位轉型市場。兩款新硬體皆能相容現有測試系統，如T2000 AiR平台輕巧的設計最能因應各類環境限制，從工程實驗室到量產製造現場都適用。
針對現今快速成長之行動電子市場而大量製造的半導體元件，皆強調低功率運行，務求延長電池續航力。而為了測試這些IC元件，不僅要能供應小電流和迅捷的處理速度的能力，還要能進行高精度的參數量測，以及具備高精度的輸出電壓源和夠深的掃描圖樣記憶體(Scan pattern memory)。
為了在T2000測試平台滿足上述需求，愛德萬測試推出最新128通道氣冷式500MDM數位模組，能處理資料傳輸速率達500 Mbps的元件，除了擁有32-Gbit掃描圖樣記憶體外，更為所有32 I/O通道設計專用的高效能參數量測單元，使T2000系統之電流容量進一步擴充至每I/O通道60豪安培(mA)。
搭配最新32豪安培DPS32A元件電源供應，能因應任何類型的消費性電子元件。升級後的系統可以有32個通道提供4伏特電壓/1安培電流的能力。其高解析度參數量測與持續採樣功能，能支援Delta-IDDQ量測與IDD頻譜量測等最新測試方法。此外，新系統具備量測超低待機電流的能力，與前代DPS500mA電源供應模組相比較提升。。
T2000 AiR氣冷式測試平台，特別針對研發與量產測試成本效益的提升進行最佳化設計，與市面上其他氣冷式測試機相較，能提供最快的作業速度和最大的掃描圖樣記憶體。其模組化結構能發揮最大彈性，最新500MDM和DPS32A都能導入進來。再者，由於T2000 AiR不需要連接外部循環冷卻水，因此哪裡都可以安裝。除此之外，T2000 AiR的軟體亦能與擴充性佳的T2000系列產品完全相容。
愛德萬測試T2000事業單位副總Toshiaki Adachi表示，兩款最新硬體單元進一步拓展了T2000測試平台功能，滿足投入穿戴式電子等物聯網(IoT) 產品相關研發生產之IDM廠、晶圓廠和半導體IC設計公司的測試需求。新設備的模組化設計與相容性，不僅能協助客戶節省資本支出，亦符合愛德萬測試的產品組合策略。