國家儀器(NI)近日於2017 SEMICON Taiwan NI展前記者會發布第二代向量訊號收發儀(VST)的基頻模組PXIe-5820，並揭露NI近期在半導體DC量測上，包含Open-Short測試與小於1fA Wafer量測的最新斬獲。
國家儀器(NI)近日於2017 SEMICON Taiwan NI展前記者會發布第二代向量訊號收發儀(VST)的基頻模組PXIe-5820，並揭露NI近期在半導體DC量測上，包含Open-Short測試與小於1fA Wafer量測的最新斬獲。
面對4G到5G的市場過渡期，能否在射頻晶片測試上取得優勢至關重要。NI推出的PXIe-5820擁有市場上1GHz最大頻寬的向量訊號基頻能力，可以分析5G、802.11ax與LTE-Advanced Pro等最新無線標準，FPGA架構則可使量測速度提升10倍，並讓工程師透過使用者可程式化FPGA進行客制化處理，以增加特定的應用功能。
此外，PXIe-5820還可搭配NIRFmx測量軟體與NI-CLK專利技術使用。RFmx量測軟體可以協助PXIe-5820偵測多標準下的快速除錯(Debug)解決方案，提供最佳的動態範圍測試，而NIT-CLK技術能精準地同步RF封包追蹤(Envelope Tracking RF)與基頻硬體量測，讓企業能大幅降低整體測試成本並縮短產品上市時間。
除了射頻上的進展，NI展示由夥伴思衛科技以基於NI PXIe-6570高Pin數所打造的Open-Short測試儀，該款產品具備2048通道數的數位測試功能，其高度吞吐量的特色更使每通道測試時間低於1毫秒，能在高精準測試需求的環境中提升生產效率。
NI於2017 SEMICON Taiwan期間，台北南港展覽館1樓I1126攤位，現場將有專業人員與合作夥伴進行實機展示解說，讓與會者深度了解開放式的模組化測試平台如何協助工程師解決複雜的測試環境。