愛德萬測試(Advantest)推出結合人工智慧(AI)科技的最新良率提升解決方案，加速辨別造成良率損失的原因，並提高分析測試結果的效率。創新又具備擴增彈性的ACS EASY(Advantest Cloud Solutions Engineering AI Studio for Yield Improvement)能幫助各方使用者，從晶片設計師到委外封測代工業者(OSAT)，提高元件工程和製造作業的生產力。
元件良率在半導體生產過程中是關鍵的效能指標，需要工程人員持續除錯和微調。愛德萬測試獨創ACS EASY解決方案運用AI技術，自動監測測試環境並進行AI推論(inference)，攔檢並分析良率下降的原因，如此便能即時解決生產問題、縮短偵錯的時間，並大大減少分析測試資料的工作量。
ACS EASY善於處理大量資料，藉由比較新一批次與先前批次的測試結果，快速辨別出不正常類別(bin)的原因。這套解決方案提供圖形化的使用者介面(GUI)，便於線上傳輸測試結果，省去製作個別報告的麻煩。此外，ACS EASY操作直覺簡便，操作者不需要熟悉AI、機器學習、資料分析或統計學也能輕鬆上手。