半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)日前於2021年3月17~19日假上海新國際博覽中心舉行的中國國際半導體展(SEMICON China)，展示針對先進IC的最新產品與解決方案。
愛德萬測試將以全新主題「Converging Technologies. Advancing the Future」為宗旨，展現良好的技術領導實力，帶來數十項助攻人工智慧(AI)、百萬兆級運算、5G和ADAS/自動駕駛等革命性應用的測試解決方案。
至於產品展示，愛德萬測試則於N4館第4431號攤位，透過產品展示與數位影像並行的方式，呈現多元測試解決方案與服務：如最新V93000 EXA Scale系統單晶片(SoC)測試系統，能測試運算效能達百萬兆級(Exascale) 的數位IC；擴充T2000平台功能的3款模組─4.8GICAP CMOS影像擷取模組、500MDM數位模組、DPS32A電源供應模組；新愛德測試雲端解決方案(Advantest Cloud Solutions)，則先進的雲端資料分析生態系，協助用戶管理測試與設備資料，並提供方便使用的雲端應用與基礎建設等。