愛德萬測試為服務廣大的客戶群，每年定期舉辦系統單晶片測試研討會(SoC Technical Seminar)，推出最新的測試解決方案並設置科技資訊站(Technical Kiosk)，讓技術專家和與會嘉賓分享測試與應用的經驗。
2021系統單晶片測試技術研討會日前盛大舉行。愛德萬測試舉辦此國際化的研討會，歷年皆邀請國外技術專家親自出席介紹最新測試解決方案，由於這兩年受疫情影響，進行方式改為Hybrid，由國外技術專家預錄影片於現場播放，再以線上方式進行問答和互動，現場氣氛熱絡。今年的技術研討會由台灣愛德萬測試的新任董事長暨總經理吳萬錕開場致歡迎詞，集團的社長吉田芳明先生(Yoshida-san)也錄製影片捎來問候與祝福。緊接著蘇勇鴻副總經理以豐厚的產業經驗分享半導體產業的市場趨勢與觀點分析。
下午場次的產品簡報主要涵蓋V93000各項應用領域，從針對行動處理器和HPC/AI應用的EXA Scale世代系統，到V93000平台最新的RF解決方案，會議中亦提及電源管理IC解決方案，及分享針對掃描與基於軟體之測試的最新方法，以及支援此新方法之創新V93000平台Link Scale通道卡。科技資訊站介紹最新V93000 EXA Scale通道卡及多元使用案例，展示硬體與應用範例，讓測試發展更容易、有助客戶加快產品上市時程的最新軟體功能。
研討會最後以摸彩活動結尾，吳萬錕董事長再次感謝貴賓的參與，期待明年2022與產業菁英再聚首。