國家儀器(NI)日前推出NI PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備(ATE)的封閉架構。
國家儀器(NI)日前推出NI PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備(ATE)的封閉架構。
NI半導體測試副理Ron Wolfe表示，PXI Digital Pattern Instrument對半導體測試系統(STS)而言相當重要，此儀器提供工程師他們原先以爲僅有高階數位測試平台才具備的所有數位功能。產線上的PXI只要具備此項功能，工程師便能滿足先進裝置在價格與測試上的需求，並且輕鬆套用至自身目錄的其他產品。
最新半導體裝置的需求不斷超出傳統ATE的測試範圍。藉由引進半導體產業所建立的數位測試範例至STS採用的開放式PXI平台中，並運用強大好用的波形編輯器與除錯工具加以改良，使用者便能利用最先進的PXI儀器減少測試成本，並提升RF與類比爲主IC的傳輸率。
全新Digital Pattern Editor軟體整合數位Pin map的編輯環境、規格與波形，進而能以更快的速度開發測試計畫；多點與多重儀器波形激發等內建工具，可順暢從開發擴展至生產；Shmoo plot等工具與互動式pin view則可提升除錯與優化測試的效率。
國家儀器網址:www.ni.com/zh-tw