是德科技(Keysight Technologies)推出全新PXI參考解決方案，適用於射頻功率放大器(PA)特性分析和測試。工程師能藉由執行S參數、諧波失真、功率和解調變等量測，對功率放大器雙工器(PAD)等下一代功率放大器模組，進行快速而徹底的特性分析。該參考解決方案經過最佳化，以提供更快的量測速度和更高的量測準確度。
是德科技(Keysight Technologies)推出全新PXI參考解決方案，適用於射頻功率放大器(PA)特性分析和測試。工程師能藉由執行S參數、諧波失真、功率和解調變等量測，對功率放大器雙工器(PAD)等下一代功率放大器模組，進行快速而徹底的特性分析。該參考解決方案經過最佳化，以提供更快的量測速度和更高的量測準確度。
台灣是德科技總經理張志銘表示，這套解決方案具有經驗證的強大數位預失真演算法，加上開迴路和閉迴路量測功能，在效能方面讓任何PA特性分析與測試解決方案望塵莫及。
除經驗證的數位預失真(DPD)演算法、查找料表(LUT)及記憶多項式功能外，該解決方案還提供如波封追蹤(ET)測試、快速波形下載、精準同步和自動校驗等功能，皆是ET測試不可或缺的關鍵特性。新的參考解決方案可支援不同廠商的產品，例如Signadyne SD AOU-H3353單槽式高速PXIe任意波形產生器(AWG)，並提供業界最快的波封產生能力，以及最佳的測試空間利用率。
是德科技網址：www.keysight.com.tw