Type-C DDR4 PCIe

是德科技展示400G/PAM-4測試解決方案

2017-01-24
是德科技(Keysight)日前宣布將於2月1日至2日在美國加州聖克拉拉會議中心舉辦的DesignCon 2017大會中展出其高速數位解決方案。是德科技技術專家和應用工程師將展示最先進的設計和測試解決方案。這些解決方案專為克服當今最棘手的高速數位量測挑戰而設計。是德科技為2017年DesignCon的主要贊助機構。
是德科技(Keysight)日前宣布將於2月1日至2日在美國加州聖克拉拉會議中心舉辦的DesignCon 2017大會中展出其高速數位解決方案。是德科技技術專家和應用工程師將展示最先進的設計和測試解決方案。這些解決方案專為克服當今最棘手的高速數位量測挑戰而設計。是德科技為2017年DesignCon的主要贊助機構。

此外,是德科技產業專家將主持8場免費的40分鐘教育講座,探討的主題包括USB TYPE-C、訊號和電源完整性、400G/PAM-4、PCIe4、DDR4/LPDDR4、資料分析,以及IBIS-AMI模擬基本原理。凡於是德科技攤位填表登記者,是德科技將於會後免費提供簡報檔和影片檔。

是德科技將展示的解決方案包含USB 3.1/Type-C Tx/Rx/PD測試、PCIe Rx/Tx測試、訊號完整性和電源完整性、400G/PAM-4、資料分析、DDR4/DDR5記憶體測試和驗證與靈活的多階訊號產生等。

是德科技服務與支援專家將在攤位中,現場解答經過認證的校驗、技術更新服務、培訓和諮詢服務等相關問題。

本站使用cookie及相關技術分析來改善使用者體驗。瞭解更多

我知道了!