安立知很榮幸宣布，汎銓科技(MSSCORPS)採用安立知領先市場的光電網路分析儀(Opto-electronic Network Analyzer；ONA) VectorStar ME7848A系統，藉由導入該系統的高精度量測能力，汎銓科技成功為其自主研發的MSS HG檢測設備提供光電量測的選配服務及功能，以確保其矽光子(Silicon Photonics)測試技術的精準度與穩定性，進一步拓展於矽光子領域的商務布局。
安立知的VectorStar ME7848A系統採用創新的模組化方法，可在波長為850 nm、1310 nm和1550 nm的矽光子元件上實現經濟高效的O/E、E/O和O/O測量。該系統具有快速切換測量模式的能力，其測量結果由MN4765B O/E校正模組建立並具備NIST可追溯性。憑藉其強大的全面測量能力，包含響應度參數(頻率響應、轉換效率等)、遞移函數、群延遲測量、光損耗以及平衡測量和E/E測量等，能完美應對70 GHz、110 GHz、145 GHz甚至高達170GHz高頻系統的嚴苛測試挑戰。
汎銓科技透過導入安立知的光電量測技術為其高效能設備進行技術驗證，確保其量產設備符合最高規格的品質標準，全面因應高頻系統的嚴苛測試挑戰。未來，汎銓MSS HG設備除了標準配置外，更將透過高度彈性的架構進一步整合包含ONA、眼圖(Eye Diagram)及BERT (誤碼分析儀)等高階選配功能，打造全方位的矽光子高值化測試平台，為半導體晶圓製造、IC設計與CPO封裝業者提供更即時可靠的解決方案。
汎銓科技董事長柳紀綸表示，汎銓科技的目標是為半導體產業提供最精準、高效率的材料分析與故障分析技術，選用安立知的技術與平台，正是基於其在光電與高頻測試領域的領導地位。結合安立知高穩定度且具高擴充性的測試方案(如ONA、BERT等)，使我們能確保MSS HG設備的光損定位精確性與通用性，進一步鞏固汎銓科技作為全球半導體分析品牌領導者的地位。
安立知美國區總裁暨M3US事業部總經理Pete Pragastis表示，汎銓科技在半導體與矽光子檢測領域展現了卓越的技術創新實力，結合安立知先進的ONA測試解決方案，雙方攜手為矽光子檢測設備定義了全新標準，並為高速光通訊與CPO封裝技術的未來開拓了更多可能性。安立知期望持續深化與汎銓科技的合作，共同推動先進光電技術在半導體產業的創新應用，引領產業發展並為全球客戶創造更高價值。