USB-IF對於OTG產品的認證，目前只有FS的LOGO，對於HS OTG的LOGO，因為HS OPT的測試方式還未完成，所以可能要今年底才會出現...
USB-IF對於OTG產品的認證，目前只有FS的LOGO，對於HS OTG的LOGO，因為HS OPT的測試方式還未完成，所以可能要今年底才會出現。對於廠商而言，如有需要對Silicon ASIC或End-Product認證(如廠商本身為USB-IF的會員)，可參加IF辦的Compliance Workshop，可參考http://www .usb.org/ developers/ events/ 有詳細介紹。
如不是會員可到ALLION NSTL Asia百佳泰電腦測試。但筆者建議在去認證之前，先在自己Lab測過再去，才不會白跑一趟。相關的測試工具如OET、OPT等在OTG IF的網站中都買的到。
首先我們先來了解OTG產品的定義(圖1)。以及OTG產品測試主要四大項目。
OTG Protocol Test(OPT)
這項測試主要是測當OTG Device為A-Device和B-Device時，相對回應OPT測試卡的HNP、SRP、Reset、Resume等Timing是否正確。OPT測試卡如圖2。測試步驟如下：
安裝完成後，執行OPT測試軟體你會看到如圖3的畫面。
在執行OTG Protocol測試時，需準備一條Mini-A to Mini-B的Cable。這項測試主要分成2部份：
DB-Device：將Mini-B插入待測的Device中，Mini-A插入OPT測試卡。完成後執行「Test B-device」。
測試硬體方塊圖如圖4。
測試流程和各測試點的測試項目如圖5。
測試完成後產生的Log Summary和Log File如圖6、圖7。
最後測試完成的報告如圖8、圖9。
這個項目和傳統USB Device的測試方法相同，所以在此就不多做介紹。但Power Measurement的部份，OTG Device就和傳統USB Device不一樣，可參考圖10。
這項測試主要是測當OTG Device為A-Device和B-Device時，是否有發SRP的能力，電壓是否合乎Spec等，OET測試板如圖11。測試分成2部份8小項：
OET測試板硬體電路圖如圖12。
茲分就OET的8向測試說明如下：
量測結果如圖13。
量測目的：檢查A-Device推VBUS時，是否能在1秒鐘內把VBUS推到4.4V以上。
量測報告如圖14。
量測結果如圖15。
量測目的：檢查A-Device推VBUS時，Rise Time是否在小於100ms。
量測報告如圖16。
量測結果如圖17。
量測目的：檢查B-Device接上另外一個OTG Device時，發出SRP的Peak Time VBUS Voltage是否在2.1V到5.25V之間。
量測報告如圖18。
量測結果如圖19。
量測目的：檢查B-Device接上PC時，發出SRP的Peak Time VBUS Voltage是否小於等於2V。
量測報告如圖20。
量測結果如圖21。
量測目的：檢查A-Device可否提供大於100mA的電流，如果不能需要告知使用者。例如Show a message「Attached Device Not Support」。如果可以VBUS Minimum Voltage必須大於4.4V。The Mean Voltage必須介於4.75~5.25V之間。
量測報告如圖22。
量測結果如圖23。
量測目的：檢查A-Device是否有能力回應VBUS Pulsing。如果Device不Support請在N/A的地方打勾。如果Support，當VBUS的電壓加到大於2.05V時，必須在1秒鐘之內把VBUS推到大於4.4V。
量測報告如圖24。
量測結果如圖25。
量測目的：檢查B-Device當VBUS電壓加到750mV時，不能有Data Channel上升，當VBUS電壓加到4.05V時，Data Channel需在1秒鐘之內上升到高於2.7V。
量測報告如圖26。
量測結果如圖27。
量測目的：檢查B-Device發SRP時，Data Line Pulsing的電壓是否在2.7V到3.6V之間，並且寬度是否在5ms到10ms之間。
量測報告如圖28。
這個項目和傳統USB Device的測試方法相同，所以在此就不多做介紹。
最後，去測試前再把OTG_Compliance_ Document RC1的文件，和USB Device相關文件的表格填寫完成後，就可以去參加測試了。希望相關的介紹能夠對有需要FS OTG LOGO的廠商有所幫助，也可使消費者了解只有在產品上有LOGO的產品才是合乎OTG規格的產品。在不久的未來，不用透過PC就能傳資料的時代將會來臨。
(文中圖表請翻閱新通訊46期12月號)