愛德萬測試 5G 5G LET 活動訊息

愛德萬測試將於韓國SEMICON展示5G解決方案

2019-01-21
半導體測試設備廠商愛德萬測試將於1月23日至25日,於南韓首爾市國際會展中心所舉辦的SEMICON國際半導體展上,展示該公司多種先進的IC測試及晶圓檢測解決方案。

愛德萬測試將於C 展場(Hall C)第#C510號攤位上,展示該公司目前所發表的最新測試系統與各項進階功能,包括MPT3000平台的最新升級版,也是業界首創、能夠全面整合開發、除錯與量產PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的解決方案;可靈活運用的T5851,則是符合下一代移動協議NAND,包括UFS3.x、以及PCIe Gen4 BGA的記憶體測試器;而 T5503HS2 系統,是唯一能夠評估新一代高速LPDDR5及DDR5記憶體進階功能的測試機台。另外,還有HiFix 高速記憶體測試解決方案,能夠以超過16 Gbps的速度,支援先進設備測試; 以及適合奈米技術應用的量測解決方案,包括用於光罩和晶圓的愛德萬E3650、E5610和E3310掃描式電子顯微鏡(SEM),以及適用於1X-nm 製程的F7000電子束光刻系統等等。

另外,攤位上也將設有自動展示區,說明如何以愛德萬的測試解決方案,來改善從感應器到通訊等,所有機載電子設備的性能與可靠度 。

而攤位上的其他展示區,則將陳列包括系統級測試用的T2000平台;V93000智慧衡量系統的FVI16 浮動高功率 VI 供應器,可用於測試應用在汽車、工業與PMIC的先進IC;而具備最新HVI (高壓VI電源與量測)模組的 EVA100 量測系統,則將其應用延伸至包括測試用於大量消費者應用上的高功率IC;還有設計供愛德萬測試器使用的探針卡等等。

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