泰瑞達(Teradyne)推出最新的D750Ex LCD驅動IC測試系統，是專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。奇景(Himax)為台灣的無晶圓驅動IC設計廠商，採用本系統測試其下一代大尺寸驅動器與手機驅動IC。奇景目前使用D750Ex進行生產。先前J750平台的表現相當成功，已在全球有超過兩千六百台的系統裝機量，而此次D750Ex即以原J750平台作為基礎。
泰瑞達(Teradyne)推出最新的D750Ex LCD驅動IC測試系統，是專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。奇景(Himax)為台灣的無晶圓驅動IC設計廠商，採用本系統測試其下一代大尺寸驅動器與手機驅動IC。奇景目前使用D750Ex進行生產。先前J750平台的表現相當成功，已在全球有超過兩千六百台的系統裝機量，而此次D750Ex即以原J750平台作為基礎。
D750Ex系統確實提供一個每腳端(Pin)高密度資源架構，可支援整體程式超過97%的平行測試效率。D750Ex也同時具備嵌入式DSP與中央式DSP架構，可增加處理效能。此系統的體積很小，所需空間減少50～85%。並採一萬用介面埠(Universal Slot)架構，可根據設備測試需求將多種類型設備放置於同一系統中。D750Ex也提供記憶體測試選項(Memory Test Option, MTO)，無須額外的埠即可在一次完成測試行動驅動IC。D750Ex適用於各通道的「任一腳端」架構，大幅簡化探針卡設計，也使得多點測試的開發環境更為彈性。
泰瑞達LCD驅動IC業務部總經理George Rose表示，其與奇景合作，幫助開發D750Ex高密度架構，找出最重要的測試方法。並擴張D750Ex的腳端密度與設定彈性，使泰瑞達得以提供LCD驅動器IC製造商更具成本效益的解決方案，並更進一步地邁向成功。
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