A/D轉換器 模組化架構 混合訊號

愛德萬測試展示硬體與線上測試解決方案

2017-11-03
愛德萬測試 (Advantest) 於10月31日至11月2日在美國德州沃斯堡 (Fort Worth)盛大舉行的2017國際測試會議 (International Test Conference, ITC) 展示硬體與線上測試解決方案,並發表技術論文與海報。
愛德萬測試 (Advantest) 於10月31日至11月2日在美國德州沃斯堡 (Fort Worth)盛大舉行的2017國際測試會議 (International Test Conference, ITC) 展示硬體與線上測試解決方案,並發表技術論文與海報。

該公司位於218號的攤位將展出隨選CloudTesting服務和EVA100類比/混合訊號IC測試解決方案最新功能。CloudTesting服務讓用戶可以隨時從該公司網站直接選用各式測試方法 (IP)。只要利用此種隨選線上服務,設計師即可在IC從晶圓廠一送達公司,在不需要資本支出之下以最低的費用成本, 在幾小時內建立相關測試環境來驗證新的矽智財。愛德萬測試CloudTesting提供測試機免費租用服務及最實惠的維護成本,協助客戶避免預期以外的支出。

愛德萬測試EVA100類比/混合訊號測試解決方案結合模組化架構設計和高電壓、高精確度類比參數量測單位,使用彈性大,可因應廣泛的類比與混合裝置各種測量需求。EVA100產品家族最新機型能提供整合式伺服迴路功能,達到業界最短的測試時間與最高精確度。其18位元A/D轉換器擁有20位元線性度DC表現,以及超低飄移/雜訊源與參考電壓(VREF),搭配高度直覺式的圖形使用者介面(GUI),用戶得以大幅縮短其最新IC產品的上市時間。

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