是德發表全新PCI Express/USB相符性測試平台

2015-05-06
是德科技(Keysight Technologies)日前宣布推出先進設計系統(ADS)PCI Express(PCIe)和通用序列匯流排(USB)相符性測試平台,為序列器/解序列器(SerDes)工程師提供從候選設計模擬一直到硬體原型量測的完整工作流程。對於開發SerDes I/O模組的半導體設計公司,以及將這類晶片整合入系統印刷電路板(PCB)中的原始設備製造商(OEM)而言,新的相符性測試解決方案是理想的輔助工具。
是德科技(Keysight Technologies)日前宣布推出先進設計系統(ADS)PCI Express(PCIe)和通用序列匯流排(USB)相符性測試平台,為序列器/解序列器(SerDes)工程師提供從候選設計模擬一直到硬體原型量測的完整工作流程。對於開發SerDes I/O模組的半導體設計公司,以及將這類晶片整合入系統印刷電路板(PCB)中的原始設備製造商(OEM)而言,新的相符性測試解決方案是理想的輔助工具。

台灣是德科技總經理張志銘表示,這種創新方式讓工程師能夠任意選擇在即時/示波器、離線/示波器,以及離線/遠端這三種模式中,執行同一套相符性測試。更重要的是,完成模擬設計後,工程師可獲得跟硬體原型製作完全一樣的相符性測試報告。

據了解,本次發表的兩個相符性測試平台為Keysight EEsof EDA旗下Advanced Design System 2015.01通道模擬軟體的附加套件。利用新的測試平台,工程師現在可透過硬體模擬,來確定候選設計是否符合PCI-SIG和USB-IF標準的規範,進而製作硬體原型。

是德科技網址:www.keysight.com

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