安捷倫(Agilent)發表積體電路特性描述與分析程式(IC-CAP)Wafer Professional(WaferPro)軟體，為半導體元件的模擬應用提供多元件(multi-site)、多晶圓的自動化直流與射頻量測解決方案。
安捷倫(Agilent)發表積體電路特性描述與分析程式(IC-CAP)Wafer Professional(WaferPro)軟體，為半導體元件的模擬應用提供多元件(multi-site)、多晶圓的自動化直流與射頻量測解決方案。
WaferPro可以讓使用者控制半自動與全自動探針台，因支援最新的切換矩陣和熱夾頭解決方案，WaferPro可在溫度範圍內自動執行局部(Spot)和掃描(Swept)量測。WaferPro直接控制安捷倫4070和4080參數測試系統的能力，可大幅提升量測的速度。
使用WaferPro，每當溫度改變就會自動執行晶圓對準，如此可省去工程師監測量測的麻煩。測試計畫可以自動在不同的量測站，使用不同的硬體執行，以提高實驗室設備的利用率。以複雜結構為基礎的WaferPro，也可執行高效率的資料分析與處理，並為之後複雜的模擬作業提供良好的基礎。
安捷倫網址：www.agilent.com