愛德萬測試(Advantest)將於2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea展示多項測試解決方案，展期即將在2月8~10日於首爾COEX會展中心盛大登場。愛德萬測試同時也是2月8日晚間歡迎晚宴的白金級贊助商。
愛德萬測試(Advantest)將於2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea展示多項測試解決方案，展期即將在2月8~10日於首爾COEX會展中心盛大登場。愛德萬測試同時也是2月8日晚間歡迎晚宴的白金級贊助商。
愛德萬測試將在位於C展館的第1612號攤位，展示專為韓國市場設計的最新測試解決方案，和已經過嚴謹測試的產品。主打產品與服務包括領先業界的測試與測量平台、能有效提升效能的模組和通道卡、電子束光刻與計量掃描式電子顯微鏡(Metrology-SEM)系統、性能測試用基板、燒機測試基板和探針卡。
韓國愛德萬測試SoC部門主任Jeongseob Kim亦將在2月9日(四)為時半天的測試論壇上，發表「於ATE系統測試IoT模組之挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技術論文。發表時間為下午2:00，地點在COEX會展中心會議室(南)318室，歡迎業界先進前往指教。