端到端 愛德萬 Advantest SEMICON SEA AI 人工智慧 5G技術 HPC

愛德萬於SEMICON SEA展出5G/AI測試端到端方案

2020-08-19
愛德萬測試(Advantest)於8月11到21日,以贊助商身份參與首場線上虛擬東南亞國際半導體展 (SEMICON Southeast Asia, SEMICON SEA),展示最新端到端IC測試解決方案並發表技術論文。

在業界商展與會議受到COVID-19(新冠肺炎)疫情衝擊之際,愛德萬測試仍致力提升電子供應鏈價值,並維繫與客戶間的良好關係。在成功參與於7月20~23日舉行的首場線上SEMICON West大會後,這次SEMICON SEA大會再次提供愛德萬測試絕佳機會展現產業領導力,透過數位活動分享旗下測試技術與解決方案的最新資訊。

愛德萬測試在SEMICON West虛擬大會上,曾展示旗下針對5G、AI及系統級測試等先進應用所推出的各項端到端解決方案。此次SEMICON SEA虛擬大會期間,亦能隨選觀看之前曾在SEMICON West亮相的虛擬展示內容。愛德萬測試虛擬攤位展出的測試解決方案包括有:針對作業頻率達8GHz之5G-NR收發器及其他連線IC的愛德萬測試V93000 Wave Scale RF8卡;全新入口網站「myAdvantest」,讓客戶24小時全年無休都能使用數位產品與網路服務,包括創新的平台即服務 (PaaS) 解決方案「測試工程雲」(TE-Cloud),瞄準雲端測試方案開發與測試工程服務;針對AI與高效能運算 (HPC) 應用的全方位測試單元解決方案,將最受歡迎的V93000、T5800系列或T5503測試機整合進愛德萬測試的測試分類機;為了提升整體生產力與測試品質而研發的多項軟體工具與服務;以及整合性系統級測試 (SLT) 解決方案,包括愛德萬測試解決方案 (ATS) 和MPT3000系列測試平台。

除了虛擬展示外,菲律賓愛德萬測試資深應用工程師Jupelm Renato Alesna亦將於線上虛擬測試及良率分析論壇 (Teting & Yield Analysis Forum),以「5G NR半導體測試挑戰」(5G NR Semiconductor Test Challenges) 為題發表演說,探討如何提升測試效率,以及有助增加良率和資料可預測性的量測系統。

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