愛德萬測試(Advantest)推出全新整合性大量並列同測(IMS)解決方案--T2000，為內建整合類比電路與內嵌快閃記憶體電路的微控制器測試實現最低成本。
愛德萬測試(Advantest)推出全新整合性大量並列同測(IMS)解決方案--T2000，為內建整合類比電路與內嵌快閃記憶體電路的微控制器測試實現最低成本。
愛德萬系統單晶片(SoC)測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu表示，拜全新T2000 IMS系統高效率大量並行同測能力之賜，愛德萬將能在最講求成本效益的微控制器(MCU)與智慧卡晶片領域中擴大市占率。這套系統的最大優勢，在於採用通用接腳架構，完全有別於其他自動化測試設備公司的設計，這些公司採用多套模組，且以極複雜的效能電路板管理這些模組，才能達到愛德萬這套一體化IMS模組相同的成效。
愛德萬全新整合性大量並列同測解決方案並列同測能力達兩百五十六個元件，提供高產出與高速功能，並行測試效率可超過99%。此機台採通用接腳架構，可管理兩百零八個不同通道的資源，提供最佳彈性。
愛德萬網址：www.advantest.com