| 吉時利(Keithley)宣布推出最新的4225-PMU Ultra Fast I-V模組，進一步擴充了4200-SCS半導體特性分析系統的功能選擇，在4200-SCS既有的強大測試環境中整合了超快速的電壓波形產生和電流/電壓測量功能，實現了業界最廣的電壓、電流和上升/下降/脈衝時間動態量測範圍，並提高了系統對新材料、元件和製程進行特性分析的能力，除此之外，利用4225-PMU可像進行直流測量一樣輕鬆地提供I-V輸出並量測之，其寬廣的可程式化電壓/電流源及量測範圍、脈寬和上升時間使其非常適於對電壓輸出的速度有高度需求、且需要同步測量的應用—例如奈米CMOS或快閃記憶體。
與之前需要多達三種不同測試平臺才能對元件、材料或製程進行充分特性分析的方案不同；4225-PMU憑藉其寬廣的動態量測範圍，只需一套儀器即可完成對元件、材料和製程的全方面特性分析。目前，實驗室僅需安裝一套靈活的系統即可處理以下三種類型的量測：精密直流I-V測試、交流阻抗和Ultra Fast I-V或Transient I-V測試。
4225-PMU支援四種掃描類型：線性、脈衝、任意波形和專利申請中的Segment ARB，Segment ARB模式簡化了波形的創造、儲存和產生過程，最高支援由2048個使用者自定義線段所組成的波形，具備出色的波形產生能力。
吉時利網址： keithley.acrobat.com
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